654484
2011-02-02
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詳細
Stratix® IV デバイスにおける IEEE 1149.1 (JTAG) バウンダリースキャン・テストについて説明します
使用方法に関する説明
関連アセット
タイトルと説明
Format
言語
アクション
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 11: SEU Mitigation
Describes the error detection cyclical redundancy check (CRC) and SEU Mitigation in Stratix® IV Devices
Stratix® IV Device Handbook, Volume 2: Transceivers
Stratix® IV Device Transceivers
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1: Device Core, I/O Interfaces, and System Integration
This section provides a description of transceiver architecture and transceiver clocking for the Stratix® IV device family. It also describes configuring for multiple protocols and data rates, reset control and power down, and dynamic configuration for Stratix IV devices.
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 10: Configuration, Design Security, and Remote System Upgrades
Which configuration schemes are supported and how to execute required configuration schemes.