データセンターのサイレント・データ・エラーに関するテクニカルペーパー

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データエラーはコンピューティング業界にとって目新しいものではありません。アルファ粒子によるメモリのソフトエラーと磁気ハードドライブエラーは、長い間十分に研究され、文書化されてきました。最近では、マイクロプロセッサー内部の欠陥によるサイレント・データ・エラー (SDE) に関する技術論文がインテル、Google、Meta から出版され、業界のカンファレンスでも議論されています。このホワイトペーパーでは、SDE、インテルのテスト哲学、およびインテル® Data Center Diagnostic Tool について説明します。