インテル® Stratix® 10 JTAGバウンダリー・スキャン・テスト ユーザーガイド

ID 683207
日付 11/06/2017
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2.3. IEEE Std. 1149.1バウンダリー・スキャン・レジスター

バウンダリー・スキャン・レジスターは、TDIピンを入力、そしてTDOピンを出力として使用する大規模なシリアル・シフト・レジスターです。バウンダリー・スキャン・レジスターは、各I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セルとパディングビットで構成されています。バウンダリー・スキャン・レジスターは、外部ピンとの接続をテストしたり内部データをキャプチャーするために使用することができます。

図 2.  バウンダリー・スキャン・レジスター以下の図は、IEEE Std. 1149.1デバイスのペリフェラルでテストデータがどのようにシリアルにシフトされているかを示します。