Intel Agilex® 7デバイスファミリーの高速シリアル・インターフェイスのシグナル・インテグリティー・デザイン・ガイドライン

ID 683864
日付 6/15/2023
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ドキュメント目次

1. 高速PCBデザインにおけるシグナル・インテグリティー (SI)

更新対象:
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挿入損失 (IL)、挿入損失偏差 (ILD)、反射減衰量 (RL)、クロストーク、モード変換など、多くの要因が高速シリアル・インターフェイスのシグナル・インテグリティーに影響を与えます。これらの要因を軽減するには、まず、対象となるプロトコルの損失バジェットを決定します。次に、損失バジェットを抑えられるPCB材料とスタックアップ・デザインを選択します。その後、これらの材料を使用してPCBをデザインし、チャネル・コンプライアンス解析を実行します。

最後の手順は、ポストレイアウト・モデル抽出とエンドツーエンドのシステム・シミュレーションです。IBIS-AMIモデルを使用して、対象となるプロトコルのターゲットBERを使用して、フルチャネルのエンドツーエンドのアイ・ダイアグラム・シミュレーションを実行します。IBIS-AMIモデルの詳細については、インテル・プレミア・サポートにお問い合わせいただき、ID #14017451502を引用してください。

図 1. 高速PCBデザインにおけるシグナル・インテグリティーのフロー