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3.3.1.2. PIOデザイン例のテストベンチ
次の図では、PIOデザイン例のシミュレーションのデザイン階層を示しています。PIOデザイン例のテストは、apps_type_hwtcl パラメーターを3に設定して定義されています。このパラメーター値で実行されるテストは、ebfm_cfg_rp_ep_rootport、find_mem_bar および、downstream_loop で定義されています。
図 22. PIOデザイン例のシミュレーションのデザイン階層

テストベンチはリンク・トレーニングから開始し、列挙用にIPのコンフィグレーション・スペースにアクセスします。次に、downstream_loop というタスク (Root Port PCIe BFM altpcietb_bfm_rp_gen4_x16.sv で定義) がPCIeリンクテストを実行します。このテストは、次の手順で構成されています。
- メモリー書き込みコマンドを発行して、単一のdwordのデータをEndpointの裏にあるオンチップメモリーに書き込みます。
- メモリー読み出しコマンドを発行して、オンチップメモリーからデータを読み戻します。
- 読み出しデータと書き込みデータを比較します。それらが一致する場合、テストはこれをPassとしてカウントします。
- Step 1、2、および3を10回繰り返します。
最初のメモリー書き込みは約236 μsで行われます。これに続いて、F-tile Hard IP for PCIeの Avalon® -ST RXインターフェイスでメモリーの読み出しが行われます。Completion TLPは、 Avalon® -ST TXインターフェイスでのメモリー読み出し要求の直後に表示されます。メモリーの書き込みおよび読み出しトランザクションとCompletion TLPを次の波形に示します。
図 23. F-Tile Avalon® -ST IP for PCIeのPIOデザイン例向けのシミュレーション波形
