インテル® Stratix® 10 SEU (Single Event Upset) 緩和 ユーザーガイド

ID 683602
日付 10/10/2018
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ドキュメント目次

2.1. CRAMエラー検出と訂正

インテル® Stratix® 10デバイスの機能では、オンチップEDC回路でソフトエラーを検出します。SEUイベントによって生じたエラーが訂正可能な場合は、 インテル® Stratix® 10内部スクラビング機能を有効にすると、FPGAによってエラーが訂正されます。

表 2.  エラータイプの検出と訂正
エラータイプ 検出 訂正
シングル・ビット・エラー 可能 可能
ダブル隣接エラー 1 可能
複数ビットエラー1 8CRAMビットの長方形ボックスに収まる最大8CRAMビット(8x1、4x2、1x8または2x4エラー)までを検出
1 インテル® Stratix® 10デバイスによってサポートされています。 インテル® Quartus® Primeでこの機能を有効にするサポートは、将来のリリースで利用可能になる予定です。詳細については、最寄りの Intel® FPGA担当者にお問い合わせください。