インテル® MAX® 10 FPGAコンフィグレーション・ユーザーガイド

ID 683865
日付 1/07/2019
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ドキュメント目次

2.2.3.2. ユーザーモード・エラーの検出

SEUは、イオン化した粒子に起因するCRAMビット状態の変化です。インテルMAX 10デバイスはエラー検出回路を内蔵しており、CRAMセル内のデータ破損を検出します。

このエラー検出機能は、コンフィグレーション後のCRAMビットのCRCを連続して計算します。デバイスコンテンツのCRCは、コンフィグレーション終了時に取得した計算済みCRC値と比較されます。CRC値が一致すれば、現在のコンフィグレーションCRAMビットにエラーはありません。このエラー検出プロセスは、nCONFIGをLowに設定することによりデバイスがリセットされるまで継続されます。

インテルMAX 10デバイスのエラー検出回路では、32ビットのCRC IEEE Std. 802と32ビットの多項式をCRCジェネレーターとして使用しています。したがって、デバイスは32ビットのCRC演算を処理します。SEUが発生していなければ、得られる32ビットのシグネチャー値は0x000000になり、結果として生じるCRC_ERRORの出力信号は0になります。デバイスにSEUが生じていれば、得られるシグネチャー値がゼロ以外になり、CRC_ERROR出力信号は1になります。nCONFIGピンをLowにストローブしてFPGAをリコンフィグレーションするか、または、エラーを無視するかを決定する必要があります。