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1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック
3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック
4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL
5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O
6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス
7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード
8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和
9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト
10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント
2.1. エンベデッド・メモリーの種類
2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン
2.3. エンベデッド・メモリーの機能
2.4. エンベデッド・メモリー・モード
2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード
2.6. メモリーブロックでのパリティービット
2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル
2.8. メモリーブロックのパックモード・サポート
2.9. メモリーブロックのアドレス・クロック・イネーブルのサポート
2.10. メモリーブロックの非同期クリアー
2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート
2.12. インテル® Cyclone® デバイスにおけるエンベデッド・メモリーブロックの改訂履歴
5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O と差動 I/O バッファー
5.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける I/O 規格と電圧レベル
5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるインテルFPGA I/O IP コア
5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O リソース
5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O のアーキテクチャーと一般機能
5.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける高速ソース・シンクロナス SERDES および DPA
5.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の使用
5.8. デバイスにおけるI/Oと高速I/O
5.7.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン
5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在
5.7.3. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない
5.7.4. ガイドライン : 最大 DC 電流制限
5.7.5. ガイドライン: LVDS SERDES IPコアのインスタンス化
5.7.6. ガイドライン : ソフト CDR モードの LVDS SERDES ピンペア
5.7.7. ガイドライン : インテル® Cyclone® 10 GX GPIO 性能でのジッターへの高影響の最小化
5.7.8. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
6.1. インテル® Cyclone® 10 GX 外部メモリー・インターフェイス・ソリューションの主な特徴
6.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされるメモリー規格
6.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス幅
6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスI/Oピン
6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスパッケージのメモリー・インターフェイスのサポート
6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスのアーキテクチャー
6.8. デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
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9.6.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイス I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セル
インテル® Cyclone® 10 GXデバイスの3ビット BSCは、以下のレジスターでコンフィグレーションされています。
- キャプチャ・レジスター—OUTJ、OEJと PIN_IN 信号を介して内部デバイス・データへ接続
- アップデート・レジスター— PIN_OUT と PIN_OE 信号を介して外部データへ接続
TAP コントローラーはIEEE Std. 1149.1 BST レジスターへのグローバル・コントロール信号 (shift、clockとupdate) を内部的に生成します。命令レジスターのデコードによりMODE信号を生成します。
バウンダリー・スキャン・レジスターのデータ信号パスは、SDI(Serial Data In)信号からSDO(Serial Data Out)信号に続いています。スキャン・レジスターは、デバイスのTDIピンから始まりTDOピンで終わります。
図 168. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのIEEE Std. 1149.1 BST 回路のユーザー I/O BSC
注: TDI、TDO、TMS、TCK、TRST、VCC、GND、VREF、VSIGP、VSIGN、TEMPDIODEとRREFピンは BSC を備えていません。
ピン・タイプ | キャプチャー | ドライブ | 備考 | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
出力キャプチャー・ レジスター | OEキャプチャ・ レジスター | 入力キャプチャー・ レジスター | 出力アップデート・ レジスター | OEアップデート・ レジスター | 入力アップデート・ レジスター | ||
ユーザーI/O ピン | OUTJ | OEJ | PIN_IN | PIN_OUT | PIN_OE | INJ | — |
専用クロック入力 | 接続なし(N.C.) | N.C. | PIN_IN | N.C. | N.C. | N.C. | PIN_IN はクロック・ネットワークまたはロジック・アレイへ駆動 |
入力専用 | N.C. | N.C. | PIN_IN | N.C. | N.C. | N.C. | PIN_INはコントロール・ロジックへ駆動 |
双方向専用(オープンドレイン)27 | 0 | OEJ | PIN_IN | N.C. | N.C. | N.C. | PIN_INはコンフィギュレーション・コントロールへ駆動 |
双方向専用28 | OUTJ | OEJ | PIN_IN | N.C. | N.C. | N.C. | PIN_INはコンフィギュレーション・コントロールへ駆動、OUTJは出力バッファーへ駆動 |
出力専用29 | OUTJ | 0 | 0 | N.C. | N.C. | N.C. | OUTJは出力バッファーへ駆動 |
27 CONF_DONEとnSTATUSピンが含まれます。
28 DCLKピンが含まれます。
29 nCEOピンが含まれます。