インテルのみ表示可能 — Ixiasoft
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8.2.4.2.3. Utilized FIT
Componentのレポートによる予測SEU FIT Utilized CRAM FITは、デザインに関係のないCRAMの混乱を説明するために、FIT率の証明可能なデフレを表します。したがって、SEUの発生率は常に利用されたFIT率よりも高くなります。
.smhクリティカル・ビット・レポートと使用ビット数の比較
Compilerが報告するデザインクリティカルビットの数 .smh 生成はレポートで使用されているビットと相関していますが、同じ値ではありません。違いが生じるのは .smh ファイルには、リソースの使用量が部分的であっても、リソースのすべてのビットが含まれます。
小さなデザインに関する考慮事項
デバイス全体の生のFITは常に正しいです。対照的に、使用されるFITは非常に保守的であり、選択したデバイスを合理的に満たすデザインに対してのみ正確になります。FPGAには、コンフィギュレーション・ステート・マシン、クロック・ネットワーク制御ロジック、I/Oキャリブレーション・ブロックなどのオーバーヘッドが含まれています。これらのインフラストラクチャー・ブロックには、フリップフロップ、メモリー、および場合によってはI/Oコンフィグレーションブロックが含まれます。
コンポーネント別の予測SEU FITレポートには、デザインで使用される最初のI/OブロックまたはトランシーバーのGPIOおよびHSSIキャリブレーション回路の一定のオーバーヘッドが含まれています。このオーバーヘッドのため、1トランシーバーデザインのFITは、10トランシーバーデザインのFITの1/10よりもはるかに高くなります。ただし、「単一のANDゲートとフリップフロップ」などの些細なデザインでは、使用するビットが非常に少ないため、CRAM FITレートは0.01であり、レポートはゼロに丸められます。