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1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック
3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック
4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL
5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O
6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス
7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード
8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和
9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト
10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント
2.1. エンベデッド・メモリーの種類
2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン
2.3. エンベデッド・メモリーの機能
2.4. エンベデッド・メモリー・モード
2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード
2.6. メモリーブロックでのパリティービット
2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル
2.8. メモリーブロックのパックモード・サポート
2.9. メモリーブロックのアドレス・クロック・イネーブルのサポート
2.10. メモリーブロックの非同期クリアー
2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート
2.12. インテル® Cyclone® デバイスにおけるエンベデッド・メモリーブロックの改訂履歴
5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O と差動 I/O バッファー
5.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける I/O 規格と電圧レベル
5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるインテルFPGA I/O IP コア
5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O リソース
5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O のアーキテクチャーと一般機能
5.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける高速ソース・シンクロナス SERDES および DPA
5.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の使用
5.8. デバイスにおけるI/Oと高速I/O
5.7.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン
5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在
5.7.3. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない
5.7.4. ガイドライン : 最大 DC 電流制限
5.7.5. ガイドライン: LVDS SERDES IPコアのインスタンス化
5.7.6. ガイドライン : ソフト CDR モードの LVDS SERDES ピンペア
5.7.7. ガイドライン : インテル® Cyclone® 10 GX GPIO 性能でのジッターへの高影響の最小化
5.7.8. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
6.1. インテル® Cyclone® 10 GX 外部メモリー・インターフェイス・ソリューションの主な特徴
6.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされるメモリー規格
6.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス幅
6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスI/Oピン
6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスパッケージのメモリー・インターフェイスのサポート
6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスのアーキテクチャー
6.8. デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
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4.2.3.1. リセット
各 PLL の IP コアのリセット信号ポートを次に示します。
- fPLL—pll_powerdown
- I/O PLL—reset
リセット信号は各 PLL へのリセットまたは再同期化入力です。これらの入力信号は、デバイスの入力ピンまたは内部ロジックによって駆動することができます。
リセット信号が High に駆動されると、PLL カウンターがリセットし、PLL 出力をクリアして PLL のロックを解除します。また、VCO は通常設定に設定されます。リセット信号が再度 Low で駆動されると、PLL は再びロックし、入力クロックソースに再同期します。
このリセット信号は PLL がロックを喪失する度にアサートし、PLL の入力と出力クロック間の適切な位相関係を保証する必要があります。ロック喪失状態後、Quartus Prime プロ・エディションの Parameter Editor を使用して PLL を自動リセット ( セルフリセット ) に設定することができます。
次の条件のいずれかが true の場合は、デザインにリセット信号を含める必要があります。
- デザインで PLL リコンフィグレーションまたはクロック・スイッチオーバーがイネーブルされている
- ロック状態喪失後、PLLの入力クロックと出力クロック間の位相関係を維持する必要がある
注:
- FPGAがユーザーモードに移行したときにPLLへの入力クロックがトグルしていないか不安定な場合は、セルフリセット機能が有効になっている場合でも、入力クロックが安定して仕様の範囲内になったらPLLをリセットします。
- PLLまたは外部クロックソースを再コンフィグレーションした後、PLLが基準クロックにロックできない場合は、セルフリセット機能が有効になっている場合でも、入力クロックが安定して仕様の範囲内になったら、PLLをリセットします。
- fPLL の場合、デバイスのパワーアップ後に fPLL パワーアップ・キャリブレーション処理が完了した (pll_cal_busy信号がデアサートする ) 時点で、fPLL をリセットする必要があります。