インテル® Cyclone® 10 GXコアファブリックおよび汎用I/Oハンドブック

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ID 683775
日付 8/13/2021
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール 2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック 3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック 4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL 5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O 6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス 7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード 8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和 9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト 10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント
1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール x
1.1. LAB 1.2. ALM 動作モード 1.3. LAB 消費電力管理手法 1.4. インテル® Cyclone® デバイスのロジックアレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
1.1. LAB x
1.1.1. MLAB 1.1.2. ローカル・インターコネクトおよびダイレクト・リンク・インターコネクト 1.1.3. 共有演算チェーン・インターコネクトおよびキャリー・チェーン・インターコネクト 1.1.4. LAB コントロール信号 1.1.5. ALM リソース 1.1.6. ALM 出力
1.2. ALM 動作モード x
1.2.1. ノーマルモード 1.2.2. 拡張 LUT モード 1.2.3. 演算モード 1.2.4. 共有演算モード
2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック x
2.1. エンベデッド・メモリーの種類 2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン 2.3. エンベデッド・メモリーの機能 2.4. エンベデッド・メモリー・モード 2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード 2.6. メモリーブロックでのパリティービット 2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル 2.8. メモリーブロックのパックモード・サポート 2.9. メモリーブロックのアドレス・クロック・イネーブルのサポート 2.10. メモリーブロックの非同期クリアー 2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート 2.12. インテル® Cyclone® デバイスにおけるエンベデッド・メモリーブロックの改訂履歴
2.1. エンベデッド・メモリーの種類 x
2.1.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスに搭載されたエンベデッド・メモリーの容量
2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン x
2.2.1. メモリーブロックの選択の検討事項 2.2.2. ガイドライン : 外部の競合解決を実装する 2.2.3. ガイドライン : Read-During-Write 動作をカスタマイズする 2.2.4. ガイドライン : パワーアップ状態およびメモリーの初期化 2.2.5. ガイドライン : クロッキングをコントロールして消費電力を削減する
2.2.3. ガイドライン : Read-During-Write 動作をカスタマイズする x
2.2.3.1. 同一ポートの Read-During-Write モード 2.2.3.2. 混合ポートの Read-During-Write モード
2.4. エンベデッド・メモリー・モード x
2.4.1. シングルポート・モードでのエンベデッド・メモリー・コンフィグレーション 2.4.2. デュアルポート・モードでのエンベデッド・メモリー・コンフィグレーション
2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード x
2.5.1. 各メモリーモードでのクロッキング・モード 2.5.2. クロッキング・モードでの非同期クリアー 2.5.3. 同時の読み取り / 書き込みでの出力読み取りデータ 2.5.4. クロッキング・モードでの独立クロックイネーブル
2.5.1. 各メモリーモードでのクロッキング・モード x
2.5.1.1. シングル・クロック・モード 2.5.1.2. 読み取り / 書き込みクロックモード 2.5.1.3. 入力 / 出力クロックモード 2.5.1.4. 独立クロックモード
2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル x
2.7.1. メモリーブロックでのバイト・イネーブル・コントロール 2.7.2. データバイト出力 2.7.3. RAMブロックの動作
2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート x
2.11.1. 誤り訂正コードの真理値表
3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック x
3.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされる動作モード 3.2. リソース 3.3. デザインの検討事項 3.4. ブロック・アーキテクチャー 3.5. 動作モードの説明 3.6. インテル® Cyclone® デバイスの可変精度DSPブロック
3.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされる動作モード x
3.1.1. 特性
3.3. デザインの検討事項 x
3.3.1. 動作モード 3.3.2. 固定小数点演算での内部係数とプリアダー 3.3.3. 固定小数点演算でのアキュムレーター 3.3.4. チェーンアウト加算器 3.3.5. DSPブロックカスケード制限 インテル® Cyclone® 10 GX デバイス
3.3.4. チェーンアウト加算器 x
3.3.4.1. リソース
3.4. ブロック・アーキテクチャー x
3.4.1. 入力レジスターバンク 3.4.2. パイプライン・レジスター 3.4.3. 固定小数点演算でのプリアダー 3.4.4. 固定小数点演算での内部係数 3.4.5. マルチプライヤー数 3.4.6. 加算器 3.4.7. 固定小数点演算のアキュムレーターとチェーンアウト加算器 3.4.8. 固定小数点演算のシストリック・レジスター 3.4.9. 固定小数点演算のダブル累算レジスター 3.4.10. 出力レジスターバンク
3.4.1. 入力レジスターバンク x
3.4.1.1. 固定小数点演算の遅延レジスターの 2 セット
3.5. 動作モードの説明 x
3.5.1. 固定小数点演算の動作モード 3.5.2. 浮動小数点演算の動作モード
3.5.1. 固定小数点演算の動作モード x
3.5.1.1. 独立乗算器モード 3.5.1.2. 独立複素数乗算器 3.5.1.3. Multiplier Adder Sum モード 3.5.1.4. 36 ビット入力に加算する18 x 19乗算モード 3.5.1.5. シストリック FIR モード
3.5.1.1. 独立乗算器モード x
3.5.1.1.1. 18 x 18または18 x 19独立乗算器 3.5.1.1.2. 27 x 27独立乗算器
3.5.1.2. 独立複素数乗算器 x
3.5.1.2.1. 18 x 19複素数乗算
3.5.1.5. シストリック FIR モード x
3.5.1.5.1. 可変精度ブロック・アーキテクチャー・ビューへのシストリック・モード・ユーザー・ビューのマッピング 3.5.1.5.2. 18ビット・シストリック FIR モード 3.5.1.5.3. 27 ビットのシストリック FIR モード
3.5.2. 浮動小数点演算の動作モード x
3.5.2.1. 単一の浮動小数点演算機能 3.5.2.2. 複数の浮動小数点演算機能
3.5.2.1. 単一の浮動小数点演算機能 x
3.5.2.1.1. 乗算モード 3.5.2.1.2. 加算または減算モード 3.5.2.1.3. 乗算累積モード
3.5.2.2. 複数の浮動小数点演算機能 x
3.5.2.2.1. 積和または積差モード 3.5.2.2.2. ベクター 1 モード 3.5.2.2.3. ベクター 2 モード 3.5.2.2.4. ダイレクト・ベクター・ドット積 3.5.2.2.5. 複素数乗算
4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL x
4.1. クロック・ネットワーク 4.2. インテル® Cyclone® 10 GXの PLL 4.3. インテル® Cyclone® デバイスのクロック・ネットワークとPLL
4.1. クロック・ネットワーク x
4.1.1. インテル® Cyclone® デバイスのクロック・リソース 4.1.2. 階層的なクロック・ネットワーク 4.1.3. クロック・ネットワークのタイプ 4.1.4. クロック・ネットワーク・ソース 4.1.5. クロック・コントロール・ブロック 4.1.6. クロック・パワーダウン 4.1.7. クロックイネーブル信号
4.1.3. クロック・ネットワークのタイプ x
4.1.3.1. グローバル・クロック・ネットワーク 4.1.3.2. リージョナル・クロック・ネットワーク（RCLK） 4.1.3.3. ペリフェラル・クロック・ネットワーク
4.1.4. クロック・ネットワーク・ソース x
4.1.4.1. 専用クロック入力ピン 4.1.4.2. 内部ロジック 4.1.4.3. DAP 出力 4.1.4.4. HSSI クロック出力 4.1.4.5. PLL クロック出力
4.1.5. クロック・コントロール・ブロック x
4.1.5.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるピンマッピング 4.1.5.2. GCLK コントロール・ブロック 4.1.5.3. RCLK コントロール・ブロック 4.1.5.4. PCLK コントロール・ブロック
4.2. インテル® Cyclone® 10 GXの PLL x
4.2.1. PLL 使用率 4.2.2. PLL のアーキテクチャー 4.2.3. PLL コントロール信号 4.2.4. クロック・フィードバック・モード 4.2.5. クロックの逓倍と分周 4.2.6. プログラマブル位相シフト 4.2.7. プログラマブル・デューティー・サイクル 4.2.8. PLLカスケード接続 4.2.9. 入力リファレンス・クロックソース 4.2.10. クロック・スイッチオーバー 4.2.11. PLL リコンフィグレーションおよびダイナミック位相シフト
4.2.3. PLL コントロール信号 x
4.2.3.1. リセット 4.2.3.2. ロック
4.2.10. クロック・スイッチオーバー x
4.2.10.1. 自動スイッチオーバー 4.2.10.2. マニュアル・オーバライドの自動スイッチオーバー 4.2.10.3. マニュアル・クロック・スイッチオーバー 4.2.10.4. ガイドライン
5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O x
5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O と差動 I/O バッファー 5.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける I/O 規格と電圧レベル 5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるインテルFPGA I/O IP コア 5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O リソース 5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O のアーキテクチャーと一般機能 5.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける高速ソース・シンクロナス SERDES および DPA 5.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の使用 5.8. デバイスにおけるI/Oと高速I/O
5.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける I/O 規格と電圧レベル x
5.2.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされるI/O 規格 5.2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのI/O 規格電圧レベル
5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O リソース x
5.4.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるGPIOバンク、SERDES、およびDPAの位置 5.4.2. インテル® Cyclone® 10 GXSXパッケージにおけるFPGA I/Oリソース 5.4.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのI/O バンク・グループ 5.4.4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのI/Oバーティカル・マイグレーション
5.4.4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのI/Oバーティカル・マイグレーション x
5.4.4.1. ピン・マイグレーションの互換性の検証
5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O のアーキテクチャーと一般機能 x
5.5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのI/Oエレメント構造 5.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの I/O ピンの機能 5.5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのプログラマブル IOE 機能 5.5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるオンチップ I/O 終端 5.5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの外部 I/O 終端
5.5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのI/Oエレメント構造 x
5.5.1.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのI/O バンク・アーキテクチャー 5.5.1.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの I/O バッファーと I/O レジスター
5.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの I/O ピンの機能 x
5.5.2.1. オープンドレイン出力 5.5.2.2. バスホールド回路 5.5.2.3. ウィーク・プルアップ抵抗
5.5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのプログラマブル IOE 機能 x
5.5.3.1. プログラマブル・ドライブ能力 5.5.3.2. プログラマブル出力スルー・レート・コントロール 5.5.3.3. プログラマブル IOE 遅延 5.5.3.4. プログラマブル・オープンドレイン出力 5.5.3.5. プログラマブル・プリエンファシス 5.5.3.6. プログラマブル差動出力電圧
5.5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるオンチップ I/O 終端 x
5.5.4.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるキャリブレーションなしのRS OCT 5.5.4.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるキャリブレーションありのRS OCT 5.5.4.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるキャリブレーションありのRT OCT 5.5.4.4. ダイナミック OCT 5.5.4.5. 差動入力 RD OCT 5.5.4.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの OCT キャリブレーション・ブロック
5.5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの外部 I/O 終端 x
5.5.5.1. シングルエンド I/O 終端 5.5.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動 I/O 終端
5.5.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動 I/O 終端 x
5.5.5.2.1. 差動 HSTL、SSTL、HSUL、および POD 終端 5.5.5.2.2. LVDS、RSDS、および Mini-LVDS の終端 5.5.5.2.3. LVPECL 終端
5.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける高速ソース・シンクロナス SERDES および DPA x
5.6.1. LVDS SERDESのレシーバーモード 5.6.2. SERDES 回路 5.6.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでサポートされる SERDES I/O 規格 5.6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動トランスミッター 5.6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動レシーバー 5.6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの PLL とクロッキング 5.6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのタイミングと最適化
5.6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動トランスミッター x
5.6.4.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのトランスミッター・ブロック 5.6.4.2. DDR および SDR 動作のためのシリアライザーのバイパス
5.6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの差動レシーバー x
5.6.5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのレシーバーブロック 5.6.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのレシーバーモード
5.6.5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのレシーバーブロック x
5.6.5.1.1. DPA ブロック 5.6.5.1.2. シンクロナイザー 5.6.5.1.3. データ・リアラインメント・ブロック ( ビットスリップ ) 5.6.5.1.4. デシリアライザー
5.6.5.2. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのレシーバーモード x
5.6.5.2.1. 非 DPA モード 5.6.5.2.2. DPA モード 5.6.5.2.3. ソフト CDR モード
5.6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスの PLL とクロッキング x
5.6.6.1. 差動トランスミッターのクロッキング 5.6.6.2. 差動レシーバーのクロッキング 5.6.6.3. ガイドライン : LVDS リファレンス・クロックソース 5.6.6.4. ガイドライン : LVDS での整数 PLL モードの PLL の使用 5.6.6.5. ガイドライン : LVDS SERDES のみをクロックするために使用する PLL からの高速クロック 5.6.6.6. ガイドライン : 差動チャネルのピン配置 5.6.6.7. 外部PLLモードでのLVDSのインターフェイス
5.6.6.2. 差動レシーバーのクロッキング x
5.6.6.2.1. ガイドライン：複数の I/O バンクにまたがるクロッキング DPA インターフェイス 5.6.6.2.2. ガイドライン : DPA または非 DPA レシーバー用の I/O PLL リファレンス・クロック・ソース
5.6.6.7. 外部PLLモードでのLVDSのインターフェイス x
5.6.6.7.1. LVDS SERDES IPコアとのIOPLL IPコアの信号インターフェイス 5.6.6.7.2. 外部 PLL モードのIOPLLパラメーター値 5.6.6.7.3. 外部PLLモードのIOPLL IPおよびLVDS SERDES IPの接続
5.6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスのタイミングと最適化 x
5.6.7.1. ソース・シンクロナスのタイミンバジェット
5.6.7.1. ソース・シンクロナスのタイミンバジェット x
5.6.7.1.1. 差動データ方向 5.6.7.1.2. 差動 I/O のビット位置 5.6.7.1.3. トランスミッターのチャネル間スキュー 5.6.7.1.4. 非 DPA モードのレシーバー・スキュー・マージン
5.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の使用 x
5.7.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン 5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在 5.7.3. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない 5.7.4. ガイドライン : 最大 DC 電流制限 5.7.5. ガイドライン： LVDS SERDES IPコアのインスタンス化 5.7.6. ガイドライン : ソフト CDR モードの LVDS SERDES ピンペア 5.7.7. ガイドライン : インテル® Cyclone® 10 GX GPIO 性能でのジッターへの高影響の最小化 5.7.8. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
5.7.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン x
5.7.1.1. ガイドライン : VREFソースとVREFピン 5.7.1.2. ガイドライン : 3.0 Vインターフェイスでのデバイスの絶対最大定格の観察 5.7.1.3. ガイドライン : I/O PLL リファレンス・クロック入力ピン用のサポートされる I/O 規格
5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在 x
5.7.2.1. 非電圧リファレンスの I/O 規格 5.7.2.2. 電圧リファレンス形式の I/O 規格 5.7.2.3. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混合
6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス x
6.1. インテル® Cyclone® 10 GX 外部メモリー・インターフェイス・ソリューションの主な特徴 6.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされるメモリー規格 6.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス幅 6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスI/Oピン 6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスパッケージのメモリー・インターフェイスのサポート 6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス 6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスのアーキテクチャー 6.8. デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスI/Oピン x
6.4.1. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスパッケージのメモリー・インターフェイスのサポート x
6.5.1. インテル® Cyclone® 10 GX ECC付きDDR3 / DDR3Lx40またはECCなしLPDDR3x32のパッケージサポート 6.5.2. ECC シングルおよびデュアルランク付き DDR3 x72 の インテル® Cyclone® 10 GX パッケージサポート
6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス x
6.6.1. ピンポン PHY IP
6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスのアーキテクチャー x
6.7.1. I/Oバンク 6.7.2. I/O AUX
6.7.1. I/Oバンク x
6.7.1.1. ハード・メモリー・コントローラー 6.7.1.2. 遅延ロックループ 6.7.1.3. シーケンサー 6.7.1.4. クロックツリー 6.7.1.5. I/Oレーン
6.7.1.1. ハード・メモリー・コントローラー x
6.7.1.1.1. ハード・メモリー・コントローラーの機能 6.7.1.1.2. メイン・コントロール・パス 6.7.1.1.3. データ・バッファー・コントローラー
6.7.1.5. I/Oレーン x
6.7.1.5.1. DQS ロジックブロック
7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード x
7.1. エンハンスト・コンフィギュレーションおよびプロトコル経由のコンフィギュレーション 7.2. コンフィグレーション手法 7.3. コンフィグレーションの詳細 7.4. アクティブシリアル手法を使用したリモート・システム・アップグレード 7.5. デザイン・セキュリティー 7.6. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのにおけるコンフィグレーション、デザイン・セキュリティー、およびリモート・システム・アップグレードの改訂履歴
7.2. コンフィグレーション手法 x
7.2.1. アクティブシリアル (AS) コンフィグレーション 7.2.2. パッシブシリアル (PS) コンフィグレーション 7.2.3. ファースト・パッシブ・パラレル (FPP) コンフィグレーション 7.2.4. JTAG コンフィグレーション
7.2.1. アクティブシリアル (AS) コンフィグレーション x
7.2.1.1. DATA クロック (DCLK) 7.2.1.2. アクティブ・シリアル・シングルデバイス・コンフィグレーション 7.2.1.3. アクティブ・シリアル・マルチデバイス・コンフィグレーション 7.2.1.4. 複数の EPCQ-L デバイスとのアクティブ・シリアル・コンフィグレーション 7.2.1.5. EPCQ-L デバイスの使用
7.2.1.3. アクティブ・シリアル・マルチデバイス・コンフィグレーション x
7.2.1.3.1. ピン接続とガイドライン 7.2.1.3.2. 複数のコンフィグレーション・データの使用
7.2.1.5. EPCQ-L デバイスの使用 x
7.2.1.5.1. ディスプレイ・デバイスの制御 7.2.1.5.2. トレース長のガイドライン 7.2.1.5.3. EPCQ-L デバイスのプログラミング
7.2.2. パッシブシリアル (PS) コンフィグレーション x
7.2.2.1. 外部ホストを使用したパッシブ・シリアル・シングルデバイスのコンフィグレーション 7.2.2.2. Intel FPGA ダウンロード・ケーブルを使用したパッシブ・シリアル・シングルデバイス・コンフィグレーション 7.2.2.3. パッシブ・シリアル・マルチデバイス・コンフィグレーション
7.2.2.3. パッシブ・シリアル・マルチデバイス・コンフィグレーション x
7.2.2.3.1. ピン接続とガイドライン 7.2.2.3.2. 複数のコンフィグレーション・データの使用 7.2.2.3.3. シングル・コンフィグレーション・データの使用 7.2.2.3.4. PC ホストとダウンロード・ケーブルの使用
7.2.3. ファースト・パッシブ・パラレル (FPP) コンフィグレーション x
7.2.3.1. ファースト・パッシブ・パラレル・シングルデバイス・ コンフィグレーション 7.2.3.2. ファースト・パッシブ・パラレル・マルチデバイス・ コンフィグレーション
7.2.3.2. ファースト・パッシブ・パラレル・マルチデバイス・ コンフィグレーション x
7.2.3.2.1. ピン接続とガイドライン 7.2.3.2.2. マルチ・コンフィグレーション・デバイスの使用 7.2.3.2.3. シングル・コンフィグレーション・データの使用
7.2.4. JTAG コンフィグレーション x
7.2.4.1. JTAG シングルデバイス・コンフィグレーション 7.2.4.2. JTAG マルチデバイス・コンフィグレーション
7.2.4.2. JTAG マルチデバイス・コンフィグレーション x
7.2.4.2.1. ピン接続とガイドライン 7.2.4.2.2. ダウンロード・ケーブルの使用
7.3. コンフィグレーションの詳細 x
7.3.1. MSELピン設定 7.3.2. CLKUSR 7.3.3. コンフィグレーション・シーケンス 7.3.4. コンフィグレーション・タイミング波形 7.3.5. コンフィグレーション時間の見積り 7.3.6. デバイス・コンフィグレーション・ピン 7.3.7. コンフィグレーション・データの圧縮
7.3.3. コンフィグレーション・シーケンス x
7.3.3.1. パワーアップ 7.3.3.2. リセット 7.3.3.3. コンフィグレーション 7.3.3.4. コンフィグレーション・エラーの処理 7.3.3.5. 初期化 7.3.3.6. ユーザーモード
7.3.3.3. コンフィグレーション x
7.3.3.3.1. コンフィグレーション・エラー検出
7.3.4. コンフィグレーション・タイミング波形 x
7.3.4.1. FPP コンフィグレーション・タイミング 7.3.4.2. AS コンフィグレーション・タイミング 7.3.4.3. PS コンフィグレーション・タイミング
7.3.6. デバイス・コンフィグレーション・ピン x
7.3.6.1. コンフィグレーション・ピンのための I/O 規格およびドライブ強度 7.3.6.2. Quartus Prime プロ・エディションソフトウェアでのコンフィグレーション・ピンのオプション
7.3.7. コンフィグレーション・データの圧縮 x
7.3.7.1. デザインのコンパイル前の圧縮の有効化 7.3.7.2. デザインのコンパイル後の圧縮の有効化 7.3.7.3. マルチデバイス・コンフィグレーションでの圧縮の使用
7.4. アクティブシリアル手法を使用したリモート・システム・アップグレード x
7.4.1. コンフィグレーション・イメージ 7.4.2. リモート・アップデート・モードでのコンフィグレーション・シーケンス 7.4.3. リモート・システム・アップグレード回路 7.4.4. リモート・システム・アップグレード回路のイネーブル化 7.4.5. リモート・システム・アップグレード・レジスター 7.4.6. リモート・システム・アップグレード・ステート・マシン 7.4.7. ユーザー・ウォッチドッグ・タイマー
7.4.5. リモート・システム・アップグレード・レジスター x
7.4.5.1. コントロール・レジスター 7.4.5.2. ステータスレジスター
7.5. デザイン・セキュリティー x
7.5.1. セキュリティー・キーの種類 7.5.2. セキュリティー・モード 7.5.3. インテル® Cyclone® 10 GX Qcryptセキュリティー・ツール 7.5.4. デザイン・セキュリティーの実装
7.5.2. セキュリティー・モード x
7.5.2.1. JTAG セキュアモード
8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和 x
8.1. シングル・イベント・アップセット 8.2. インテル® Cyclone® 10 GX SEU緩和の概要 8.3. CRAMエラー検出設定リファレンス 8.4. 仕様 8.5. インテル® Cyclone® デバイスのSEU緩和の改訂履歴
8.1. シングル・イベント・アップセット x
8.1.1. コンフィグレーションRAM 8.1.2. エンベデッド・メモリー 8.1.3. 故障率
8.2. インテル® Cyclone® 10 GX SEU緩和の概要 x
8.2.1. コンフィグレーションRAMでのSEUの影響の軽減 8.2.2. エンベデッド・ユーザーRAMでのSEUの影響の軽減 8.2.3. トリプル・モジュール・リダンダンシー 8.2.4. Quartus Prime プロ・エディション ソフトウェアSEU FITレポート
8.2.1. コンフィグレーションRAMでのSEUの影響の軽減 x
8.2.1.1. EDCRC（Error Detection Cyclic Redundancy Check） 8.2.1.2. SEUセンシティビティー・プロセッシング 8.2.1.3. 階層的タグ付け 8.2.1.4. 機能エラーに対するシステムの対応の評価 8.2.1.5. CRCエラーからの回復
8.2.1.1. EDCRC（Error Detection Cyclic Redundancy Check） x
8.2.1.1.1. カラム・ベースとフレームベースのチェック・ビット 8.2.1.1.2. エラー・メッセージ・レジスター 8.2.1.1.3. CRC_ERRORピンの動作
8.2.1.5. CRCエラーからの回復 x
8.2.1.5.1. エラー訂正 (内部スクラブ) のイネーブル化
8.2.2. エンベデッド・ユーザーRAMでのSEUの影響の軽減 x
8.2.2.1. ECCを有効にするためのRAMのコンフィグレーション
8.2.4. Quartus Prime プロ・エディション ソフトウェアSEU FITレポート x
8.2.4.1. SEU FITパラメーター・レポート 8.2.4.2. コンポーネント使用状況レポートによる予測SEU FIT 8.2.4.3. コンポーネント使用状況レポートによる予測SEU FITの有効化
8.2.4.2. コンポーネント使用状況レポートによる予測SEU FIT x
8.2.4.2.1. コンポーネントのFITレート 8.2.4.2.2. Raw FIT 8.2.4.2.3. Utilized FIT 8.2.4.2.4. 軽減されたFIT 8.2.4.2.5. アーキテクチャの脆弱性要因
8.4. 仕様 x
8.4.1. エラー検出周波数 8.4.2. エラー検出時間 8.4.3. EMRアップデート間隔 8.4.4. エラー訂正時間
9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト x
9.1. BST 動作コントロール 9.2. JTAG動作用のI/O電圧 9.3. BSTの実行 9.4. IEEE Std. 1149.1 BST 回路を有効または無効にする 9.5. IEEE Std. 1149.1バウンダリー・スキャン・テストのガイドライン 9.6. IEEE Std. 1149.1 バウンダリー・スキャン・レジスター 9.7. IEEE Std. 1149.6バウンダリー・スキャン・レジスター 9.8. インテル® Cyclone® デバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト
9.1. BST 動作コントロール x
9.1.1. IDCODE 9.1.2. サポートされるJTAG 命令 9.1.3. JTAGセキュアモード 9.1.4. JTAG プライベート命令
9.6. IEEE Std. 1149.1 バウンダリー・スキャン・レジスター x
9.6.1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイス I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セル
10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント x
10.1. 消費電力 10.2. プログラマブル・パワー・テクノロジー 10.3. 電源検出ライン 10.4. 電圧センサ 10.5. 温度センサーダイオード 10.6. パワーオン・リセット回路 10.7. インテル® Cyclone® パワー・マネジメント・ユーザーガイド 10.8. 電源のデザイン 10.9. インテル® Cyclone® デバイスの電力管理の改訂履歴
10.1. 消費電力 x
10.1.1. ダイナミック電力を求める式
10.4. 電圧センサ x
10.4.1. 外部アナログ信号での入力信号の範囲 10.4.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでの電圧センサの使用
10.4.1. 外部アナログ信号での入力信号の範囲 x
10.4.1.1. ユニポーラー入力モード
10.4.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでの電圧センサの使用 x
10.4.2.1. FPGA コアアクセスを使用した電圧センサーへのアクセス 10.4.2.2. 電圧センサの伝達関数
10.4.2.1. FPGA コアアクセスを使用した電圧センサーへのアクセス x
10.4.2.1.1. コア・アクセス・モードでのコンフィグレーション・レジスター 10.4.2.1.2. MD[1:0]が2'b11ではない場合のコア・アクセス・モードでの電圧センサへのアクセス 10.4.2.1.3. MD[1:0]が2'b11 の場合のコアアクセスモードでの電圧センサへのアクセス
10.5. 温度センサーダイオード x
10.5.1. 内部 温度検知ダイオード 10.5.2. 外部 温度検知ダイオード
10.5.1. 内部 温度検知ダイオード x
10.5.1.1. 内部TSD の伝達関数
10.6. パワーオン・リセット回路 x
10.6.1. POR 回路でモニタリングされる電源とモニタリングされない電源
10.7. インテル® Cyclone® パワー・マネジメント・ユーザーガイド x
10.7.1. インテル® Cyclone® デバイスのパワーアップ・シーケンス要件 10.7.2. パワーダウン・シーケンスの推奨事項と インテル® Cyclone® デバイス要件
1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック
3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック
4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL
5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O
6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス
7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード
8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和
9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト
10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント

8.1.3. 故障率

Soft Error Rate (SER) またはSEUの信頼性は、Failure in Time (FIT) で表されます。1FITユニットは、操作10億時間あたり1つのソフトエラーの発生です。

  • たとえば、5,000個のFITがあるデザインでは、10億時間（または114,155.25年）で平均5,000のSEUイベントが発生します。SEUイベントは統計的に独立しているため、FITは加法的です。1つのFPGAに5,000個のFITがある場合、10個のFPGAには50,000個のFIT（または114,155.25年間で50Kの障害）があります。

もう1つの信頼性測定法は、平均故障時間 (MTTF) です。これは、FITまたは1/FITの逆数です。

  • 標準故障単位で5,000のFIT / 10億時間の場合、MTTFは、

    1 /(5,000/1Bh) = 10億/5,000 = 200,000時間 = 22.83年です。

    1 /(5,000/1Bh) =1 billion/5,000 = 200,000 hours = 22.83

SEUイベントはポアソン分布に従います。平均故障間時間 (MTBF) の累積分布関数 (CDF) は指数分布です。故障率計算の詳細については、 Intel FPGA Reliability Reportを参照してください。

中性子SEUの発生率は、高度、緯度、およびその他の環境要因により異なります。Quartus Prime プロ・エディション開発ソフトウェアで提供しているSEU FITレポートは、ニューヨーク州マンハッタンの海抜でのコンパイルに基づいています。JESD 89A仕様でテスト・パラメーターを定義しています。

ヒント: このデータを他の場所や高度に変換するには、www.seutest.comの計算機などを使用します。さらに、プロジェクト内のSEU率を調整するために、相対中性子束（www.seutest.comで計算）をプロジェクトの .qsf ファイルに含めてください。
レベル 2 の表題