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1. システム・デバッグ・ツールの概要
2. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したデザインのデバッグ
3. Signal Probeを使用した迅速なデザイン検証
4. 外部ロジック・アナライザーを使用したインシステム・デバッグ
5. メモリーおよび定数のインシステム変更
6. In-System Sources and Probesを使用したデザインのデバッグ
7. System Consoleを使用したデザインの解析とデバッグ
8. Quartus® Primeプロ・エディションのユーザーガイド: デバッグツールのアーカイブ
A. Quartus® Primeプロ・エディションのユーザーガイド
2.1. Signal Tapロジック・アナライザーの概要
2.2. Signal Tapのデバッグフロー
2.3. ステップ1: Signal Tapロジック・アナライザーのプロジェクトへの追加
2.4. ステップ2: Signal Tapロジック・アナライザーのコンフィグレーション
2.5. ステップ3: デザインとSignal Tapインスタンスのコンパイル
2.6. ステップ4 :ターゲット・ハードウェアのプログラム
2.7. ステップ5: Signal Tapロジック・アナライザーの実行
2.8. ステップ6: キャプチャしたデータのSignal Tapでの解析
2.9. シミュレーション対応Signal Tap
2.10. その他のSignal Tapデバッグフロー
2.11. Signal Tapロジック・アナライザーのデザイン例
2.12. カスタム・ステートベースのトリガーフローの例
2.13. Signal Tapファイルのテンプレート
2.14. スタンドアロン・バージョンのSignal Tapの実行
2.15. Signal Tapスクリプティングのサポート
2.16. 複数のSignal Tapファイルのマージ
2.17. Signal Tapファイルのバージョンの互換性
2.18. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したデザインのデバッグの改訂履歴
5.1. In-System Memory Content EditorをサポートするIPコア
5.2. In-System Memory Content Editorによるデバッグフロー
5.3. デザイン内インスタンスのランタイム修正のイネーブル
5.4. In-System Memory Content Editorを使用したデバイスのプログラミング
5.5. メモリー・インスタンスのISMCEへのロード
5.6. メモリー内の位置のモニタリング
5.7. Hex Editorを使用したメモリー内容の編集
5.8. メモリーファイルのインポートおよびエクスポート
5.9. 複数のデバイスへのアクセス
5.10. スクリプティング・サポート
5.11. メモリーおよび定数のインシステム変更の改訂履歴
7.1. System Consoleの概要
7.2. System Consoleの起動
7.3. System Console GUI
7.4. System Consoleでのツールキットの起動
7.5. System Consoleサービスの使用
7.6. On-Board インテル® FPGA ダウンロード・ケーブル IIのサポート
7.7. システム検証フローにおけるMATLAB*とSimulink*
7.8. System Consoleの例とチュートリアル
7.9. コマンドライン・モードでのSystem Consoleの実行
7.10. System Consoleコマンドの使用
7.11. ツールキットTclコマンドの使用
7.12. System Consoleを使用したデザインの解析とデバッグの改訂履歴
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2.12.1. トリガー例1: カスタムトリガーの位置
取得バッファーに対するアクションでは、オプションのポストカウント引数の受け取りができます。このポストカウント引数を使用すると、カスタムトリガー位置の定義を取得バッファー内の各セグメントに対して行うことができます。
この例で示すのは、取得バッファー内のすべてのセグメントに対するトリガー位置の適用方法です。この例で説明しているトリガーフローは、4つのセグメントに分割された取得バッファーです。各取得セグメントの深度が64サンプルの場合、各バッファーのトリガー位置はサンプル#34にあります。取得停止は、すべてのセグメントが一度満たされた後です。
if (c1 == 3 && condition1) trigger 30; else if ( condition1 ) begin segment_trigger 30; increment c1; end
各セグメントは、非セグメント化バッファーとして機能し、信号値を使用することでメモリー内容を継続して更新します。
Dataタブに表示されるバッファー停止前の最後の取得は、影響を受けるセグメントの最後のサンプル番号です。この後、影響を受けるセグメントのトリガー位置が N – post count fill によって定義されます。この N は、セグメントあたりのサンプル数です。
図 93. カスタムトリガー位置の指定