インテル® Stratix® 10 LタイルおよびHタイル・トランシーバーPHYユーザーガイド

ID 683621
日付 3/03/2020
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ドキュメント目次

5.1.2.1.7. On-Die Instrumentation

On-Die Instrumentationブロックを使用すると、ユーザーはDFEの合計ノードでアイの幅および高さを監視できます。これにより、受信信号に対するCTLE、VGA、およびDFEタップの影響を確認できます。

注: ODIは、Hタイルデバイスで完全にサポートされています。ただし、Lタイルデバイスの場合、ODIはリモートシステムのデバッグおよびリンクの調整、つまり最大25.8 Gbpsの機能診断ユーティリティーです。ODI機能は、Lタイルデバイスでの相対的なチャネル間の比較をサポートしていません。

ODIの使用方法の詳細については、デバッグ機能を参照してください。